泰州XPS产品表面异物异物成分分析

当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。

分析方法：根据样品实际情况，

以下分析方法可供选用。

仪器名称 信号 元素测定 限 深度分辨率 适用范围

扫描显微镜（SEM） 二次及背向散射电子 B-U (EDS ) 0.1 - 1at% 0.5-3 μm 高辨析率成像

X射线能谱仪（EDS） 二次背向散射电子 B-U 0.1 – 1 at% 0.5–3 μm 颗粒分析>300nm

红外显微镜（FTIR） 红外线吸收 分子群 0.1 - 1 wt% 0.1-2.5 μm 污染物分析

拉曼光谱（Raman） 拉曼散射 分子键联 >1 wt% 1到5 μm 污染物材料分类

俄歇能谱仪（AES） 表面Auger电子 Li-U 0.1-1% 20 – 200Ǻ侧面 缺陷分析；表面分析

X光能谱仪（XPS） 原子附近的光电子 Li-U 0.01 - 1at% 10 - 100 Å (表面）残留物的表面分析

有机材料和无机材料的表面微量分析

来自表面的大量光谱

表面离子成像

部分案例图片：

塑料断口红色颗粒物分析 塑料表面白色粉末成分分析

连接端子pin针表面异物分析 金手指端部表面异物分析

镀金管脚表面异物分析

PCB表面异物成分分析

异物分析项目目的及意义 异物，指的是混入原料或产品里的除对象物品以外的物质。异物的生成原因比较多，例如原材料不纯、反应有副产物、工艺控制不规范或工艺配方不成熟等。在生产使用过程中，产品表面往往*被污染、腐蚀、氧化，或者由于生产缺陷、疏忽等原因引入和形成异物，增加了产品不良率，对产品的使用性能带来较大影响。如何减少异物的引入，一直是生产行业的一大难题。